产品目录 粒度测量方案 微米粒度仪 纳米粒度仪 颗粒计数器 多角度激光光散射仪 沉降粒度仪 查看全部 >> 展开 相关文章 马弗炉KSL-1100X的主要特点是什么？ 高温高压流变仪MARS对多个行业都有指导意义 高温高压流变仪MARS如何探索物质秘密？ 超声波清洗机：强力超声，污垢“无处遁形” 马弗炉KSL-1100X在现代工业中的应用与展望 推荐产品 火焰石墨炉原子吸收光谱仪 模块化旋转流变仪 你的位置：首页 > 产品展示 > 粒度测量方案 > 产品展示 OMNIOmni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪 Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°，173°、90三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的测量。 型号：OMNI 更新日期：2024-10-21 ￥面议 共 7 条记录，当前 2 / 2 页 首页 上一页 下一页 末页 跳转到第页
