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  • OMNIOmni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪

    Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有15°,173°、90三个散射角度,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的测量。

    型号:OMNI
    更新日期:2023-11-13
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